詳細摘要： Thermo Scientific ELEMENT GD結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元...
產品型號：所在地：更新時間：2024-08-13 在線留言通信電纜 網絡設備 無線通信 云計算|大數據 顯示設備 存儲設備 網絡輔助設備 信號傳輸處理 多媒體設備 廣播系統 智慧城市管理系統 其它智慧基建產品
上海禹重實業有限公司
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詳細摘要： Thermo Scientific ELEMENT GD結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元...
產品型號：所在地：更新時間：2024-08-13 在線留言
詳細摘要： 輝光放電光譜檢測方法利用低壓，通過氬離子束對樣品表面均勻濺射物質的非熱能處理技術。濺射出的物質離開樣品表面隨后被原子化并在低壓等離子放電區域被激發。LECO G...
產品型號：所在地：更新時間：2024-08-13 在線留言
詳細摘要： 日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高...
產品型號：所在地：更新時間：2024-05-28 在線留言
詳細摘要： 日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。 日本電子...
產品型號：所在地：更新時間：2024-05-23 在線留言
詳細摘要： 日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。日本電子新開...
產品型號：所在地：更新時間：2024-05-23 在線留言
詳細摘要： PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針提供高性能的俄歇（AES）頻譜分析，俄歇成像和濺射深度分析的復合材料包括：納米材料，催化劑，金屬和電子設備。維...
產品型號：所在地：更新時間：2024-05-15 在線留言
詳細摘要： PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀是一種表面敏感的技術，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用...
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